• 32路输入/输出通道，基于每通道的动态配置
• 256MB板载矢量内存
• 支持TTL，LVTTL，LVDS接口
• 200MHz矢量速率
• 作为独立卡或多达七个额外的同步从属板

概述

GX5290系列是一款高性能，高性价比的3U PXI动态数字I / O板，提供32路数字输入或输出通道，具有动态方向控制功能。同时，GX5290系列还支持深度模式存储器，提供256 MB的板载向量存储器，动态每个引脚方向控制，测试速率高达200 MHz。 单板设计支持主和从功能，无需使用附加模块。

GX5290系列支持可选的I/O电平为1.5V，1.8V，2.5V，或3.3V（TTL，LVTTL，CMOS，以及LVCMOS），另外，GX5292支持32路差分通道用于LVDS，M-LVDS，或者LVDM逻辑系列，TTL/LVTTL接口利用可编程电压资源，可以设置输出逻辑电平从1.4V到3.6V。输入信号支持1.5V，1.8V，2.5V或3.3V（5V兼容）的可编程门限。推荐的工作输入电压范围为0 V至5.5 V。

采用开窗方式进行PCI存储器访问，将每个板卡所需的PCI存储空间限制在16MB，从而节省了测试系统的资源。也支持在测试系统控制器和GX5290的I / O引脚之间进行连续数据传输的直接模式。

GX5292e提供256M的矢量内存，每通道64Mb。可编程I/O宽度允许矢量深度的交易矢量宽度。在软件控制下，在软件控制下，GX5292的向量存储器可以配置为支持32,16,8,4,2和1的通道宽度，对应的矢量深度为64 Mb，128 Mb，256 Mb，512 Mb，1024 Mb和2048 Mb 。

GX5290提供可编程TTL / LVTTL输出时钟和选通，并支持外部时钟和频闪。 可编程PLL（锁相环）提供可配置的时钟频率和延迟。还提供了一个LVDS输出时钟。

GX5290的定序器可以通过整个内存定义的地址或循环停止或暂停，也可以在定义的地址范围或定义的内存块上循环。还支持两种模式的数字测试—激励/响应和实时比较模式。激励/响应模式用于驱动和捕获数据。或者，对于需要长测试向量的数字测试，实时比较模式可用于通过实时，预期测试结果与仅记录故障向量和合成测试结果（通过或失败）进行比较来显着缩短整体测试时间。

编程和软件

板卡随DIOEasy一起提供，它提供强大的图形矢量开发/波形显示工具，以及虚拟仪表板，32位DLL驱动程序库和文档。虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式地控制和监视仪器。 此外，各种接口文件可以访问仪器的功能库，用于编程工具和语言，如ATEasy，C / C ++，Microsoft VisualBasic®，Delphi和Pascal。在线帮助文件和PDF用户指南提供了包含安装，使用和编程板的说明。

应用

• 自动测试设备（ATE）
• 半导体测试
• 显示器，打印机和磁盘驱动器测试
• ASIC测试
• A / D和D / A测试
• 视频采集/播放应用
• 高速，双向总线测试/仿真